La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisión de rayos X secundarios (o fluorescentes) característicos de un material que ha sido excitado al ser «bombardeado» con rayos X de alta energía o rayos gamma. Este fenómeno es muy utilizado para análisis elemental y análisis químico, el cual tiene como fin identificar la composición química del material analizado,Esté análisis permite conocer los elementos químicos básicos de las muestras de acero a excepción del carbono